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低能电子散射/俄歇谱仪
仪器简介: 晶体中的原子对能量在0~500 eV范围内的电子有很大的散射截面,因此背散射电子中绝大部分是被表面或近表面的原子散射回来的,这就使低能电子衍射(LEED)成为研究表面结构的
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/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+岛津 可检测膜材料
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AXIS SUPRA+/Kratos X射线光电子能谱仪岛津 不同氩离子刻蚀模式对膜材料深度分析中元素化学态的影响
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AXIS SUPRA+岛津X光电子能谱XPS 可检测锂电池
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/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+岛津 适用于理化性能
俄歇电子显微镜(AES和SAM)等等AXIS SUPRA+高效智能工作流程适合多用户环境高吞吐量、快速队列样品分析模式实现连续分析采用的通用表面分析ESCApe软件系统使用户与谱仪的交互简单化和智能化
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X光电子能谱XPS岛津AXIS SUPRA+ 适用于其他
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岛津X光电子能谱XPSAXIS SUPRA+ 可检测膜材料
的深度分析多种功能附件(惰性气体传输器、催化反应池等)和可拓展多种表面分析技术,如紫外光电子能谱(UPS),离子散射谱(ISS),反射电子能量损失谱(REELS),俄歇电子能谱和扫描俄歇电子显微镜
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/Kratos X射线光电子能谱仪X光电子能谱XPSAXIS SUPRA+ 适用于其他
深度分析多种功能附件(惰性气体传输器、催化反应池等)和可拓展多种表面分析技术,如紫外光电子能谱(UPS),离子散射谱(ISS),反射电子能量损失谱(REELS),俄歇电子能谱和扫描俄歇电子显微镜
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AXIS SUPRA+X光电子能谱XPS岛津 岛津AXIS Supra具备全自动传样系统,样品预抽时便可进行目标测试
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/Kratos X射线光电子能谱仪岛津AXIS SUPRA+ 适用于其他
谱和扫描俄歇电子显微镜(AES和SAM)等等AXIS SUPRA+高效智能工作流程适合多用户环境高吞吐量、快速队列样品分析模式实现连续分析采用的通用表面分析ESCApe软件系统使用户与谱仪的交互简单化
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